Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/11701/25747
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorАнтонов Владимир Владимировичru_RU
dc.contributor.advisorAntonov Vladimir Vladimirovicen_GB
dc.contributor.authorГусев Олег Александровичru_RU
dc.contributor.authorGusev Oleg Aleksandrovicen_GB
dc.contributor.editorОвсянников Дмитрий Александровичru_RU
dc.contributor.editorOvsannikov Dmitrij Aleksandrovicen_GB
dc.date.accessioned2021-03-24T15:07:55Z-
dc.date.available2021-03-24T15:07:55Z-
dc.date.issued2019
dc.identifier.other033202en_GB
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11701/25747-
dc.description.abstractРассмотрены основные этапы развития электроники и схемотехники, проанализированы современные методы тестирования радиоэлектронных устройств. В работе подробно рассмотрены, а также выполнены на примере реального электронного устройства, этапы функционального метода тестирования: создана программная модель отдельных компонентов и самого устройства объекта контроля, найдена проверяющая тестовая последовательность, выполнена эмуляция теста. Произведен анализ полученной тестовой программы.ru_RU
dc.description.abstractThe main stages of development of electronics and circuitry were considered, modern methods of testing of radio electronic devices were analyzed. The paper considers in detail and also performed on the example of a real electronic device, the stages of the functional test method: a software model of individual components and the control object device itself was created, checking test sequence was found, the test was emulated. Created testing program was analyzed.en_GB
dc.language.isoru
dc.subjectтестированиеru_RU
dc.subjectсхемотехникаru_RU
dc.subjectобъект контроляru_RU
dc.subjectцифровое устройствоru_RU
dc.subjectмикросхемаru_RU
dc.subjecttestingen_GB
dc.subjectcircuitryen_GB
dc.subjectcontrol objecten_GB
dc.subjectdigital deviceen_GB
dc.subjectmicrocircuiten_GB
dc.titleBuilding a sequence of test signals for combinational digital circuits and circuits with memoryen_GB
dc.title.alternativeПостроение последовательности тестовых сигналов для комбинационных цифровых схем и схем с памятьюru_RU
Располагается в коллекциях:MASTER'S STUDIES

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
diplom.pdfArticle2,61 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
reviewSV_Otzyv_Gusev.pdfReviewSV119,52 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.