Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://hdl.handle.net/11701/11304
Название: | Investigations of electronic properties of one-dimensional conductors using modern methods of electron beam lithography |
Другие названия: | Исследования электронных свойств одномерных проводников с использованием современных методов электронной литографии |
Авторы: | Михайловский Владимир Юрьевич Варыгин Георгий Владимирович Varygin Georgii Вывенко Олег Федорович Vyvenko Oleg Fedorovich |
Дата публикации: | 2017 |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://hdl.handle.net/11701/11304 |
Располагается в коллекциях: | BACHELOR STUDIES |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
diplom.docx | Article | 2,99 MB | Microsoft Word XML | Просмотреть/Открыть |
reviewSV_Varygin_G_V__bak_otz.docx | ReviewSV | 17,14 kB | Microsoft Word XML | Просмотреть/Открыть |
reviewSV_Varygin_G_V__bak_rec.pdf | ReviewRev | 253,29 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.