Test check of digital devices

Abstract

21 век – век научно-технического прогресса. Все научные достижения так или иначе связаны с техникой, разного рода микросхемами и чипами. Человечество движется в сторону автоматизации всех возможных процессов. Одной из первых отраслей, где была применена автоматизация, можно по праву назвать серийное производство. Серийное производство подразумевает изготовление продукта в огромных количествах ежедневно. И несмотря на то, что процесс производства почти полностью автоматизирован, присутствует доля брака. Проблема диагностики и контроля за качеством продукта является одной из самых актуальных проблем в данной области. В настоящее время для ее решения используются разные средства и методы диагностики, позволяющие осуществить проверку функциональности микросхемы и локализацию неисправности. В данной работе были описаны метод функционального тестирования и этапы разработки тест-программы в рамках этого метода. Для создания тест-программы были изучены следующие программные средства: язык описания электронных устройств Verilog HDL, мультиплатформенная программная среда Altera Quartus II и система автоматического проектирования тестов SimTest. Данные программные средства были применены для разработки тестовой программы, результаты моделирования тестовой программы приведены на примере реальной схемы.

21st century - the century of scientific and technological progress. All scientific achievements are somehow connected with technology, all sorts of microschemes and chips. Humanity is moving towards automation of all possible processes. Mass production is one of the first industries where automation has been applied. Mass production involves the manufacture of the product in large quantities on a daily basis. And despite the fact that the production process is almost completely automated, there is always a certain amount of defects. The problem of quality diagnostics and control of the product is one of the most actual problems in this area. Nowadays different devices and methods of diagnosis are used to solve this problem, allowing to verify the functionality of the chip and the localization of the defects(faults). In this bachelor research paper a method of functional testing and stages of the development of the test program are described. To create a test program following software has been worked through: hardware description language Verilog HDL, multi-platform software environment Altera Quartus II and the system of the automated design of tests SimTest. These software tools were used to develop the test program, the results of the simulation of the test program are shown using the real circuit.