Noise spectroscopy of secondary emission in a semiconductor microcavity

Abstract

Целью настоящей работы было экспериментальное исследование свойств шумов интенсивности и поляризации излучения экситон-поляритонного конденсата в микрорезонаторе, а также изучение факторов, влияющих на ширину спектра спиновых шумов на модельной системе — парах щелочного металла цезия. Особенное внимание при этом было уделено механизмам уширения флуктуационного резонанса внутри оптической линии поглощения.

The aim of this paper was experimentally investigation the properties of the intensity and polarization noise of exciton-polariton condensate emission in a semiconductor microcavity. Moreover, the factors that affect the spin noise spectrum were studied on a model system - the cesium alkali metal vapor. Particular attention was paid to the mechanisms of the broadening of the fluctuation resonance inside the optical absorption line.