Analysis of interallelic complementation as a method for studying of homology of the genetic material in yeast

Abstract

Strains 768 and 41 of Saccharomyees cerevisiae were under the study. There were isolated and characterized by means of interallelic complementation test 40 UV — induced ade2 mutants of the strain 768 and 45 UV — induced ade2 mutants of the strain. 41. Maps obtained were compared with the previously published map for strain 15V—P4. The comparison revealed statistically significant differences in the distribution of mutations and in the frequency of diploid and triploid interallelic complementation. The above differences were interpreted as a divergence of the genetic material of these strains. The results suggest the interallelic complementation test as an eftecient tool useful for the investigation of the divergence of a single locus mutability in microorganisms.

Изучен характер межаллельной комплементации индуцированных УФ-лучами мутантов по гену ade2 у штаммов дрожжей Saccharomyees cerevisiae 768 (40 мутантов) и 41 (45 мутантов). Полученные карты межаллельной комплементации сравниваются с ранее опубликованной картой межаллельной комплементации мутантов по локусу ade2 у штамма 15В-Г14. Сравнение озволило выявить статистически достоверные различия в распределении мутаций и в частоте диплоидной и триплоидной комплементации. Причина различий кроется, по-видимому, в диверегенции генетического материала у изученных штаммов. Полученные результаты позволяют считать тест на межаллельную комплементацию методом, удобным для исследования дивергенции мутабильности отдельных локусов у микроорганизмов.