Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/11701/8827
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorVatti, К. V.-
dc.contributor.authorВатти, К. В.-
dc.date.accessioned2018-01-10T14:51:07Z-
dc.date.available2018-01-10T14:51:07Z-
dc.date.issued1961-
dc.identifier.citationК.В.Ватти. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОСЛЕДЕЙСТВИЯ Х-ЛУЧЕЙ НА МУТАЦИОННЫЙ ПРОЦЕСС//Иследования по генетике, 1961, вып.1, с.12-18en_GB
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11701/8827-
dc.description.abstractThe article comprises the experimental data on the combined effect of the x-ray irradiation and of the subsequent temperature treatment on the frequency of mutations and modifications in Drosophila melanogaster. It has been shown that the exposure to high temperature for one hour after the irradiation with x-rays results in a considerable increase of the mutation rate by far exceeding the sum of the effects of separate x-ray and temperature treatments. The frequency of modifications was also increased by the temperature treatment of larvae for 1—3 hours following the irradiation and this increase likewise exceeded the sum of the separateeffects of x-rays and temperature. The problem is discussed of the reversible state of high sensitivity induced by x-rays (called by the author the after-effect of x-rays) in the immature germ- and somatic cells, during which even relatively slight subsequent action of certain environmental factors amplifies considerably both the genetic and the biological effect of irradiation.en_GB
dc.language.isoruen_GB
dc.relation.ispartofseriesИсследования по генетике;-
dc.subjectMUTATIONen_GB
dc.subjectX-RAYSen_GB
dc.titleSTUDIES OF THE AFTER-EFFECT OF X-RAYS ON THE MUTATION PROCESSen_GB
dc.title.alternativeИССЛЕДОВАНИЕ ПОСЛЕДЕЙСТВИЯ Х-ЛУЧЕЙ НА МУТАЦИОННЫЙ ПРОЦЕССen_GB
dc.typeArticleen_GB
Располагается в коллекциях:Issue 1

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Vatti_61.pdf302,77 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.