Determination of the degree of vanadium oxidation using X-ray fluorescence spectroscopy

Abstract

Ванадий является одним из важнейших элементов, используемых в различных технологических процессах. Одной из актуальных проблем является определение валентного состояния, так как соединения, содержащие ванадий в разных степенях окисления, обладают разными свойствами. Существующие методы определения степени окисления обладают рядом недостатков. Исследование проводилось с целью развития метода, который основан на анализе характеристических рентгеновских линий. В данной работе метод представлен с использованием серийно выпускаемых спектрометров с волновой дисперсией для качественного и количественного анализа ванадия, находящего в разных степенях окисления. Также одной из задач являлась демонстрация того, как при недостаточном разрешении прибора хемометрические методы решают эту проблему.

Vanadium is one of the key elements used by various technical processes. Chemical compounds properties vary depending on a valence of Vanadium they contain. Therefore one of the actual problems is to determine the oxidation state of the element. Existing methods of oxidation state determination have a few disadvantages. The goal of the research was to evolve the method based on Characteristic X-ray lines analysis. This paper represents the method using batch produced wavelength-dispersive spectrometers for qualitative and quantitative substances analysis. The subgoal was also to demonstrate how to solve the problem with chemometric methods of analysis in case of insufficient spectrometer resolution.