Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://hdl.handle.net/11701/11145
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Гришкин Валерий Михайлович | ru_RU |
dc.contributor.author | Гусев Олег Александрович | ru_RU |
dc.contributor.author | Gusev Oleg | en_GB |
dc.contributor.editor | Овсянников Дмитрий Александрович | ru_RU |
dc.contributor.editor | Ovsiannikov Dmitrii Аleksаndrovich | en_GB |
dc.date.accessioned | 2018-07-25T20:12:02Z | - |
dc.date.available | 2018-07-25T20:12:02Z | - |
dc.date.issued | 2017 | |
dc.identifier.other | 033202 | en_GB |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11701/11145 | - |
dc.description.abstract | В XХI веке радиотехника и цифровая техника широко используются во всех областях человеческой деятельности. Как и в любой сфере серийного производства, при изготовлении цифровых устройств присутствует брак, в связи с этим для надежного функционирования необходима техническая диагностика и контроль каждого компонента. В работе представлены актуальные на сегодняшний день типы тестирования схемотехники. Для функционального тестирования подробно описана методология разработки программной модели и нахождения тестовой последовательности по поиску неисправностей электронного устройства. Смоделированы тестовые воздействия для реального объекта контроля. | ru_RU |
dc.description.abstract | In the XXI century, radio engineering and digital technology are widely used in all areas of human activity. As in any sphere of mass production, there is a fault in the manufacture of digital devices, so for proper functioning technical diagnostics and monitoring of each component are necessary. The paper presents the current types of testing circuit technology. For functional testing, the methodology for developing a software model and finding a test sequence for troubleshooting an electronic device are described in detail. The test actions for real object of testing were made. | en_GB |
dc.language.iso | ru | |
dc.subject | СимТест | ru_RU |
dc.subject | цифровое устройство | ru_RU |
dc.subject | объект контроля | ru_RU |
dc.subject | тестирование | ru_RU |
dc.subject | схема | ru_RU |
dc.subject | SimTest | en_GB |
dc.subject | digital device | en_GB |
dc.subject | object of testing | en_GB |
dc.subject | testing | en_GB |
dc.subject | circuits | en_GB |
dc.title | Emulation and test check of digital devices | en_GB |
dc.title.alternative | Эмуляция и тестовый контроль цифровых устройств | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | BACHELOR STUDIES |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
dip_31_05_17.pdf | Article | 2,87 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
reviewSV_st007807_Grishkin_Valerij_Mixajlovich_(reviewer)(Ru).txt | ReviewRev | 3,67 kB | Text | Просмотреть/Открыть |
reviewSV_st002549_Ovsyannikov_Dmitrij_Aleksandrovich_(supervisor)(Ru).txt | ReviewSV | 2,92 kB | Text | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.