Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/11701/10882
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorУльянов Сергей Владимировичru_RU
dc.contributor.authorБакалов Анатолий Эдуардовичru_RU
dc.contributor.authorBakalov Anatoliien_GB
dc.contributor.editorЧулков Евгений Владимировичru_RU
dc.contributor.editorChulkov Evgenii Vlаdimirovichen_GB
dc.date.accessioned2018-07-25T20:11:24Z-
dc.date.available2018-07-25T20:11:24Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.other031632en_GB
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11701/10882-
dc.description.abstractВ данной работы были исследованы объемные и поверхностные состояния соединения KNa2Bi при помощи метода тонких пленок. Были получены и проанализированы дисперсионные соотношения.ru_RU
dc.description.abstractIn this paper, volume and surface states of KNa2Bi using thin films metod were investigated. Dispersion curves were calculated and analysed.en_GB
dc.language.isoru-
dc.subjectтопологический изоляторru_RU
dc.subjectповерхностные состоянияru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjecttopological insulatoren_GB
dc.subjectsurface statesen_GB
dc.subjectthin filmsen_GB
dc.titleA study of the electronic structure of KNa2Bi thin filmsen_GB
dc.title.alternativeИсследование электронной структуры тонких пленок KNa2Biru_RU
Располагается в коллекциях:BACHELOR STUDIES

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Elektronnaya_struktura_KNa2Bi.pdfArticle1,44 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
reviewSV_Bakalov_A_E__bak_otz.docReviewSV16,5 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.