Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://hdl.handle.net/11701/10882
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Ульянов Сергей Владимирович | ru_RU |
dc.contributor.author | Бакалов Анатолий Эдуардович | ru_RU |
dc.contributor.author | Bakalov Anatolii | en_GB |
dc.contributor.editor | Чулков Евгений Владимирович | ru_RU |
dc.contributor.editor | Chulkov Evgenii Vlаdimirovich | en_GB |
dc.date.accessioned | 2018-07-25T20:11:24Z | - |
dc.date.available | 2018-07-25T20:11:24Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.other | 031632 | en_GB |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11701/10882 | - |
dc.description.abstract | В данной работы были исследованы объемные и поверхностные состояния соединения KNa2Bi при помощи метода тонких пленок. Были получены и проанализированы дисперсионные соотношения. | ru_RU |
dc.description.abstract | In this paper, volume and surface states of KNa2Bi using thin films metod were investigated. Dispersion curves were calculated and analysed. | en_GB |
dc.language.iso | ru | - |
dc.subject | топологический изолятор | ru_RU |
dc.subject | поверхностные состояния | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | topological insulator | en_GB |
dc.subject | surface states | en_GB |
dc.subject | thin films | en_GB |
dc.title | A study of the electronic structure of KNa2Bi thin films | en_GB |
dc.title.alternative | Исследование электронной структуры тонких пленок KNa2Bi | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | BACHELOR STUDIES |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Elektronnaya_struktura_KNa2Bi.pdf | Article | 1,44 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
reviewSV_Bakalov_A_E__bak_otz.doc | ReviewSV | 16,5 kB | Microsoft Word | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.