ОТЗЫВ РЕЦЕНЗЕНТА на магистерскую выпускную квалификационную работу Елисеева Ильи Александровича, физический факультет СПбГУ, «Оптические исследования структур на основе графена и нитридов металлов III группы»  Высокий интерес исследователей к изучению физических свойств графена обусловлен его огромным потенциалом для создания приборов нового поколения. Спектроскопия комбинационного рассеяния света (КРС) является признанным эффективным методом исследования графеновых структур. Основной задачей рецензируемой работы являлось установление кор-реляции между результатами исследования графена на SiC методом КРС и другими аналитическими методиками с целью их использования для оптимизации технологии роста высококачественного графена. Данные исследования являются крайне актуальными. Работа состоит из семи глав, в которых приведены сведения об аналитических возможностях спектроскопии КРС для изучения свойств графена, описана методика эксперимента и изложены полученные экспериментальные результаты. Отмечу лишь некоторые из них, представляющие, на мой взгляд, наибольший интерес. 1. Создано оригинальное программное обеспечение, позволяющее оперативно обрабатывать большие массивы спектров КРС графена, которое успешно использовано при изучении локальных и интегральных структурных характеристик исследуемых слоев графена. 2. Показано, что спектроскопия КРС позволяет надежно определять толщину графена с использованием анализа формы линии 2D. Это заключение основывается на сравнительном анализе данных четырех аналитических методик, полученных на одних и тех же образцах. 3. Установлено, что в графене, выращенном методами термодеструкции карбида кремния и химического осаждения из газовой фазы, основным типом дефектов являются границы доменов, а в интеркалированном железом графене – вакансии. 4. Показано, что вклады деформации и легирования в спектры КРС графена на SiC могут быть разделены только при условии использования установленной в работе зависимости: ω2D=[2684 + 2.8(ωG− 1581)] см-1 для образцов, не имеющих избыточного заряда. Этот ре-зультат является абсолютно новым и очень важен для диагностики графена на SiC. Полученные в работе результаты являются важной частью комплексных исследований по оптимизации технологических параметров роста монослойного графена большой площади на SiC, структурные, электронные и транспортные свойства которого имеют параметры, сравнимые с параметрами лучших мировых образцов, изготовленных сублимацией. Результаты работы прошли серьезную апробацию:они опубликованы в семи периодических научных изданиях и докладывались на российских и международных конференциях. Магистерская диссертационная работа Елисеева И.А. представляет собой законченное исследование с результатами, полностью соответствующими поставленным задачам и имеющими большое практическое значение. Считаю, что работа удовлетворяет всем требованиям, предъявляемым к выпускным квалификационным работам, и заслуживает оценки отлично, а Елисеев Илья Александрович достоин присвоения степени магистра физики.  Рецензент, старший научный сотрудник ФТИ им. А.Ф. Иоффе, кандидат физ.-мат. наук                                                                                А.В.Сахаров 14.05.2018г.